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Verfahren zum eingebauten Selbsttest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen Built-in self-test techniques for analog and mixed-signal integrated circuits

Description : Die vorliegende Arbeit stellt ein neues Selbsttestverfahren für den Produktionstest von analogen und gemischt analog-digitalen integrierten Schaltungen vor. Es beruht auf der Verwendung eines auf der Delta-Sigma-Modulation basierten digitalen Verfahrens zur Generierung des erforderlichen analogen Te...
Language(s) : German
Subject(s) : Produktionstest, analoger Test, gemischt analog-digitaler Test, eingebauter Selbsttest, integrierte Schaltungen, Analog-Digital-Wandler, Delta-Sigma-Modulation, Goertzel-Algorithmus , production testing, analog test, mixed-signal test, built-in self-test, integrated circuits, analog-digital-converter, delta sigma modulation, Goertzel algorithm , ddc:620
Publisher(s) : Universitätsbibliothek der TU München , Universitätsbibliothek der Technischen Universität München , University library of the Munich University of Technology
Contributor(s) : Sattler, Sebastian M. (Prof. Dr.) , Gräb, Helmut (Priv.-Doz. Dr.)
Source(s) :
Publication Date(s) : 2011-05-03